Waseda, Yoshio,
Novel Application of Anomalous (Resonance) X-ray Scattering for Structural Characterization of Disordered Materials, bearbeitet von H. Araki, J. Ehlers, K. Hepp, R. Kippenhahn, H.A. Weidenmüller und J. Zittartz,
Erstausgabe, Berlin, Springer (= Lecture Notes in Physics, Band 204), 1984, 8°, 183 S., mit zahlreichen s/w-Abbildungen, Text: englisch, farbig illustr. original Kartonage (Paperback), Namens- und Datumsvermerk auf der Titelseite, innen leichte papierbedingte Nachdunklung, sonst ein schönes, sauberes Exemplar. (Nr. 111DB)
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Dieser Titel gehört zur Katalog-Sachgruppe Naturwissenschaften: Physik.
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